ICP-6810-A2全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪
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ICP-6810-A全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪
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高精度静态稀释仪
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自动清罐仪
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限流采样阀(积分采样器)
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KLA-Tencor先进的探针式台阶仪,可精确测量纳米级至2毫米台阶高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力,集高测量精度、多功能性和经济性于一体,是生产线及材料分析等应用领域的理想选择。因其具有6.0A (1σ)或0.1%台阶高度重复性以及亚埃级的分辨率,是目前商业化仪器里(经市场验证)最高精度的台阶仪产品。
D系列台阶仪:Alpha-Step D-600 Stylus Profiler
KLA-Tencor AlphaStep轮廓仪配置自动台,采用了新型光学反射探测系统来测量高度,同时应用电磁力控制探针压力,能有效的实现超微力和低惯量 。这些创新型使表面轮廓仪能够无伤测量软薄膜样品。